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 Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Polyimide Electron beams Space charge LIMM Conduction current Polymer Partial discharges Polyethylene Electric field Ac electric field Electroluminescence Electron beam Electrical insulation KPFM Rotating machines Cross-linked polyethylene Permittivity Charge injection DC conductivity Atomic force microscopy Cable Bipolar charge transport model Aluminum oxide Dielectric material Proteins Electrostatics Polymers TiO2 E-Beam PTFE Charge transport Dielectric properties Acoustic wave propagation Electric field distribution Cross-linking by-products FLIMM Luminescence Nanostructured dielectrics Polypropylene AFM Transport Dielectric films FTIR Electromechanical stress HVDC Mechanical properties Electron emission Dielectric materials Cathodoluminescence Dielectric charging Epoxy resin SiO2 Cumyl alcohol Thermal aging C-AFM Silicon compounds Charge measurement PEA Fluid model Charge d'espace Plasma process Electron-beam irradiation Insulating polymers Silver nanoparticles Insulation Conductivity Power cables Thin films Polarity reversal LDPE EFM HVDC cable Electrical engineering Charge trapping Silver XLPE Electrical ageing Breakdown Dielectric AgNPs Polarization Plasma processes Interfacial charge Dielectrics Radiation effects DC stress Electrodes Electrical properties Field distribution Modeling Optimization Current measurement Pulsed electro acoustic method Polymeric insulation Electric potential Electrical conductivity Dielectric strength Charge transport model Ageing Accumulation characteristics

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